I
前 言
本標(biāo)準(zhǔn)按 GB/T 1.1—2009 給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)代替LD 62 —1994《粉塵采樣器技術(shù)條 件》。
本標(biāo)準(zhǔn)與LD 62 —1994 相比主要變化如下:
——按照GB/T 1.1 有關(guān)要求對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)的格式、結(jié)構(gòu)和表述進(jìn)行了 修改,使標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)要求和方法一
一對(duì)應(yīng);
——增加了適用范圍;
——修改了第 2章“ 規(guī)范性引用文件 ”內(nèi)容;
——第 3章“術(shù)語(yǔ)和定義 ”中,參考國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)修改了 3.1、3.2、3.3、3.4的定義內(nèi)容;
——第 4章“粉塵采樣器分類 ”中增加了分類, 刪除了原標(biāo)準(zhǔn)的 4.2型號(hào)編制方法;
——5.1 中增加了 5.1.4條款內(nèi)容;
——增加了 5.2.1“設(shè)計(jì) ”,將原標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于電源和流量的5.6 、5.9 、5.14.1 、5.14.2、 5.15.1內(nèi)容放入其
中并有修改, 增加了采樣頭的連接要求和濾膜要求 ;
——5.2.1“ 外觀質(zhì)量和標(biāo)記 ”中對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)的外觀 質(zhì)量要求進(jìn)行了修改完善,將原標(biāo)準(zhǔn)的 5.3“電器與
電路” 內(nèi)容放入其中,同時(shí)參考 JJG520—2005的 5.1.1內(nèi)容增加了標(biāo)記內(nèi)容;
——修改了 5.2.3“絕緣電阻與耐壓 ”的要求和試驗(yàn)方法(原標(biāo)準(zhǔn)的 5.4、6.4 );
——增加了 5.2.4、6.5 “負(fù)載能力 ”的要求和試驗(yàn)方法;
——修改了 5.2.5、6.6 “氣密性 ”的要求和試驗(yàn)方法(原標(biāo)準(zhǔn)的 5.5、6.5 );
——修改了 5.2.6、6.7 “工作溫度 ”的要求和試驗(yàn)方法(原標(biāo)準(zhǔn)的 5.7、6. 9);
——修改了 5.2.7“工作噪聲 ”的要求(原標(biāo)準(zhǔn)的 5.8);
——修改了 5.2.10“呼吸性粉塵采樣器采樣效能 ”的要求和試驗(yàn)方法,采用MT 394方法,刪除原標(biāo)
準(zhǔn)試驗(yàn)方法(原標(biāo)準(zhǔn)的5.15.3、6.14); ——增加了 5.3.1、5.3.2、 5.3.4、5.3.5 等4項(xiàng)計(jì)量性能;
——將原標(biāo)準(zhǔn)的 5.12“防塵防水性能 ”改為本標(biāo)準(zhǔn)的5.4.2“外殼防護(hù)性能 ”,修改了引用標(biāo)準(zhǔn);
——5.6 “濾膜 ”為原標(biāo)準(zhǔn)的附錄 A內(nèi)容,并 參考GBZ/T159.1 的相關(guān)內(nèi)容修改了要求及對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)
方法;
——在環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)方法中,增加了低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)溫度和持續(xù)時(shí)間、高溫試驗(yàn)的試驗(yàn)溫度和持
續(xù)時(shí)間、濕熱試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間、交變濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)周期、自由跌落試驗(yàn)的跌落高度等參數(shù) ;
——修改了第 7章內(nèi)容;
——增加了參考文獻(xiàn)。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任。
本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)家安全生產(chǎn)監(jiān)督管理總局提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)安全生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)防塵防毒分標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)( TC288/SC7)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中鋼集團(tuán)武漢安全環(huán)保研究 院有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人: 程鈞、蔡夏林、劉宏斌、竺宏峰、陶謙、余晶晶。
原標(biāo)準(zhǔn)LD 62 —1994于1994年5月7 日首次發(fā)布。
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粉塵采樣器技術(shù)條件
1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了粉塵采樣器的的技術(shù)要求 、試驗(yàn)方法 、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于作業(yè)場(chǎng)所定點(diǎn)采集空氣中總粉塵和呼吸性粉塵的采樣器,不適用于個(gè)體粉塵采樣器。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于粉塵采樣器生產(chǎn)企業(yè),并對(duì)使用單位正確選用有指導(dǎo)作用 。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。
凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。 GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A :低 溫( GB/T 2423.1—2008, IEC
60068- 2-1:2007,IDT )
GB/T 2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫 ( GB/T 2423.2 —2008,IEC
60068- 2-2:2007,IDT )
GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)( GB/T
2423.3 —2006,IEC 60068-2-78:2001 ,IDT)
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變 濕熱 ( 12h+12h循環(huán))(GB/T
2423.4 —2008,IEC 60068- 2-30:2005 ,IDT)
GB/T 2423.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊(GB/T
2423.5 —1995,idt IEC 60068- 2-27:1987 )
GB/T 2423.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Ed:自由跌落( GB/T 2423.8—1995,
idt IEC 60068- 2-32:1990 )
GB/T 2423.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)( GB/T
2423.10—2008 ,IEC 60068-2 -6:1995,IDT )
GB/T 3768 聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源 聲功率級(jí) 反射面上方采用包絡(luò)測(cè)量表面的簡(jiǎn)易法(GB/T
3768一 1996,eqv ISO 3746 :1995)
GB 3836.1 爆炸性環(huán)境 第 1部分:設(shè)備 通用要求( GB 3836.1—2010,IEC 60079 -0: 2007, MOD)
GB 3836.2 爆炸性環(huán)境 第 2部分:由隔爆外殼“d” 保護(hù)的設(shè)備(GB 3836.2—2010,IEC 60079- 1:
2007, MOD)
GB 3836.3 爆炸性環(huán)境 第 3部分:由增安型 “e”保護(hù)的設(shè)備(GB 3836.3 —2010,IEC 60079- 7:2006,
IDT )
GB 3836.4 爆炸性環(huán)境 第 4部分:由本質(zhì)安全型 “i”保護(hù)的設(shè)備(GB 3836.4 —2010,IEC 60079- 11:
2006, MOD)
GB 4208 外殼防護(hù)等級(jí)( IP代碼)( GB 4208— 2008,IEC 60529: 2001,IDT
AQ 4217-2012 粉塵采樣器技術(shù)條件